在磁芯机器视觉检测项目中，很多人都会陷入一个误区：算法反复优化、参数不停调试，最终依旧无法解决微裂纹漏检、麻点误检、成像不稳定等问题。其实多数情况下，并不是算法精度不足，而是光源选型不当。
磁芯表面哑光且带有微弱反光，曲面、倒角结构多，烧结后表面凹凸不平，是机器视觉检测公认的 “难拍工件”。采用单一光源打光，极易产生反光亮斑、阴影杂乱，造成缺陷难以识别；即便算法配置到很高精度，也难以采集清晰有效的图像。今天就通过实战案例，分享磁芯缺陷检测的最优光源选型思路。
本次待检测磁芯的不良类型包含划伤、边角破碎、表面异物等，需要对工件四个面做全方位外观检测，识别全部显性与隐性破损缺陷，样品如下图：
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图1 样品正面 |
图2 样品背面 |
针对磁芯特殊的结构与材质特性，我们摒弃传统单光源打光方案，选用多角度组合环形光，改善反光、阴影、检测盲区三大核心痛点。裂纹、气孔、崩边等缺陷处可形成清晰的明暗反差，使肉眼难以分辨的微小缺陷得以显现。多角度补光能够覆盖磁芯平面、侧边、倒角全部区域，消除大部分检测盲区，效果如下图：
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图3 裂痕 |
图4 刮伤 |
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图5 异物 |
图6 崩缺 |
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图7 侧面凹坑 |
图8 侧面异物 |
本磁芯视觉检测案例采用30° 红蓝上下组合光源 + 多角度环形光的复合打光方案，充分发挥红蓝光源高对比度成像优势，配合多角度环形补光，在彩色相机成像下可以清晰地凸显缺陷特征，有效抑制磁芯曲面带来的反光干扰。
整套光源方案兼顾平面、侧边、倒角多区域成像，能够识别微裂纹、气孔、崩边、划痕等多种复杂缺陷，提升缺陷辨识度，有效降低误检、漏检率；使磁芯多品类、多类型缺陷检测具备更好的稳定性与通用性，满足量产场景下的高精度质检需求。
