在半导体制造过程中，全自动晶圆缺陷检测技术对光学成像效果要求很高。检测分明场和暗场，明暗场大多使用高亮光纤光源成像，观察硅片的表面缺陷（如崩边缺角，表面脏污）。乐视科技新升级2代新款高亮光纤光源，新款2SLG250比2SLG150-W亮度提升60%。发光效能高，发热量低，是半导体检测的最佳搭配。
产品特点
◆采用多组耦合透镜设计实现高亮度，高效能
◆外观简洁流畅，体积更小巧
◆标配R/G/B/W/CW（高显色）型5种颜色
◆20mm照度可达到1500万LX
◆适合半导体显微模组应用
照度特性图
型号：LTS-2SLG250-W/2SLG150-W
注：调光100%、光纤8mm光束，总长1100mm的直型光纤导管，从光纤出光口到各照射距离的位置的实测值（并非保证值）。
亮度对比图
2SLG250-W比2SLG150-W亮度提升60%以上
可配套4款不同集光镜
照度分布图(LTS-HL)
照度分布图(LTS-ML)
成像灰度对比图
相机：ACA2440-20gm
镜头：LTS-TC05110
相机曝光：130us
显微模组晶圆应用示意图
光源参数
