半导体行业作为一个重要的产业,一直是现代科技中不可或缺的一部分。它是电子设备的重要组成部分， 由纯元素制成，通常是硅或锗，或砷化镓等化合物。在称为掺杂的过程中，少量杂质被添加到这些纯元素中，导致材料的电导率发生巨大变化。半导体技术已经是现代科技发展中不可或缺的一部分，被广泛应用于电子、通信、能源等领域，并且推动了通信、计算、医疗保健、军事系统、运输、清洁能源和无数其他应用的进步。
随着市场的快速发展，在半导体行业中，对出产质量的需求越来越严格，这就需要用到大量的自动化制造加工设备，这些设备科技含量高，制造难度大，设备价值量高，进而促进了机器视觉技能的不断发展壮大，机器视觉自身也跟着半导体、电子、主动化、光学等技能快速发展而不断发展和完善。乐视自动化科技有限公司有着多年的机器视觉行业经验，在机器视觉的应用领域上有着不少成功的案例和解决方案。下面分享些半导体在机器视觉中的成像案例。
电容表面缺陷检测
使用光源：LTS-RNMU75-BGR+FT5050-G
使用多色光不同角度照射，缺陷位置呈现出不同的颜色，对电容的表缺陷检测比较有利，增加底部光源不同颜色突出产品轮廓。
晶圆表面的字符检测
使用光源：LTS-3COX13752-W
晶圆表面比较光滑，平整的晶圆表面激光雕刻字符，使用垂直均匀光同轴光，使字符轮廓清晰，呈现出明显的对比度。
晶圆弧边倒角检测
使用光源：LTS-2HSL10542-W
晶圆边为圆弧倒角类型，需要高精度测试其最高点与倒角的夹角，采用平行性强的平行集光源，配合高景深的双侧远心镜，边缘清晰。
芯片金线检测
使用光源：LTS-3DM116-W
需要检测芯片与金线连接是否有断，金线为圆柱且不在同一高度，采用彩色相机配合非常均匀的圆顶光源拍摄，成像清晰对比度好。
CPU底座针脚异色
使用光源：LTS-DM154-W+LTS-COX38-CP-W
CPU底座针脚是圆弧状，需要将针脚周围异色检测清楚，不能有金属反光，使用均匀光圆顶组合高精度同轴，呈现出针脚整体均匀，异色清晰明显。
磁柱表面缺陷检测
使用光源：LTS-COXL100-W
磁柱表面有凹坑、划伤、蹦缺等缺陷，使用线阵相机，让产品转动一周，配合同轴线光，能清晰的呈现划伤，凹坑等缺陷，对比度明显，轻微的缺陷都可以很清晰的对比度。
透明晶片轮廓检测
使用光源：LTS-RN9070-W
透明晶片放在治具内，需要检测出晶片的尺寸，由于晶片透明，很难检测出轮廓，使用环形光加偏振，使轮廓边缘清晰，突显出晶片的轮廓。
芯片定位检测
使用光源：LTS-COX38-CP-W
芯片非常小，需要在6倍镜头下才能看到轻微的轮廓，在高倍镜头下普通同轴已经满足不了清晰度了，使用高精度同轴，使芯片轮廓清晰。
乐视科技一直伴随着半导体行业成长，长期协助半导体科技公司解决视觉成像方案，为客户提供整体机器视觉解决方案及服务，把机器视觉技术应用到半导体行业的智能生产中，大大的提升效率与产品质量。
